產(chǎn)品介紹：光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個被普遍認可的重要測量手段。波威提供的MiniPL為模塊化設(shè)計、計算機自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀。MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源，配合獨特的光路設(shè)計，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxc
產(chǎn)品介紹：
光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個被普遍認可的重要測量手段。
波威提供的MiniPL為模塊化設(shè)計、計算機自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀。
MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源，配合獨特的光路設(shè)計，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進行數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。
產(chǎn)品特點：
l 采激光器：224nm (5.5 eV)或 248.6nm (5.0 eV)
l 光譜范圍：230-650nm（@224nm激發(fā)）或250-650nm（@248.6nm激發(fā)）
l 分辨率：0.7nm（@1200g/mm光柵，標(biāo)配）
0.2nm（@3600g/mm光柵，選配）
l 探測器：高靈敏度PMT
l 采集器：門閘積分平均器Boxcar
l 光譜分析軟件（LabView）：半峰寬、峰值波長、副峰鑒別、背景扣除、歸一化等
l 最大可測量50mm直徑樣品，標(biāo)配XYZ三維手動可調(diào)樣品臺
l 體積：15 x 18 x 36cm，重量：<8Kg
升級選項：
l X-Y電動樣品臺，實現(xiàn)Mapping功能
l 低溫制冷機：10K-325K或77K-600℃可選
產(chǎn)品應(yīng)用：
l 表征半導(dǎo)體材料摻雜水平
l 合成組分分析
l 帶隙分析等
l 半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測
產(chǎn)品參數(shù)：
型號 | 規(guī)格描述 |
MiniPL 5.0eV | NeCu激光器(248.6nm),三維手動調(diào)節(jié)樣品臺，單光柵1200g/mm, PMT （190~650nm)，驅(qū)動及軟件； |
MiniPL 5.5eV | HeAg激光器(224.0nm) ,三維手動調(diào)節(jié)樣品臺，單光柵1200g/mm, PMT （190~650nm)，驅(qū)動及軟件； |
升級選項 | |
光電倍增管選項 | 升級為190-850nm |
光柵選項 | 增加第二塊光柵（3600g/mm） |
Mapping功能選項 | 升級為X-Y自動掃描樣品臺 |
低溫制冷選項 | 4K，6.5K，10K低溫制冷樣品室，低震動設(shè)計，振幅小于5nm |
